제품소개
제품소개
-
분류 표준물질 용도 모델명 보급시기 적용가능 측정/분석 기술 측정 단위 교정 고배율단위교정 HMC-100 보급 중 SEM, AFM 나노 단차 교정 NSC-100 2023년 하반기 AFM NSC-200 2024년 상반기 장비 특성 평가 원자현미경 탐침 특성 평가 ATC-100 보급 중 AFM ATC-200 ATC-300 ATC-400 주사탐침현미경 특성 평가 EFM-100 SCM, EFM, SSRM 등 SCM-100 SSRM-100 표면분석장비 공간분해능 평가 SRC-100 2023년 하반기 SIMS, XPS, AES, EPMA 등 SRC-200 2024년 상반기 SRC-300 2024년 상반기 박막 두께 측정 나노 산화막 두께 측정 NTC-HfO2 2023년 하반기 XPS, Ellipsometry, XRR, MEIS 및 TEM 등 NTC-ZrO2 2024년 상반기 NTC-Al2O3 2024년 상반기 다층 박막 깊이 분포도 측정 MLF-100 2023년 하반기 SIMS, XPS, AES, SEM, TEM등 MLF-200 2024년 상반기 MLF-300 2024년 상반기 박막 조성 분석 합금 박막 정량 분석 SCA-PtNi 2024년 상반기 SIMS, XPS, AES, XRF, EPMA, RBS 등 SCA-PtCo 2024년 상반기 SCA-FeNi 2024년 하반기 SCA-SiGe 2024년 하반기 특수 목적 박막 RBS 에너지 교정 RBS-100 보급 중 RBS MEIS 에너지 교정 MEIS-100 MEIS MEIS 정량 분석 MEIS-200 2024년 상반기 MEIS, XPS, AES