제품소개

제품소개

  • 분류 표준물질 용도 모델명 적용가능 측정/분석 기술
    측정 단위 교정 고배율단위교정 HMC-100 SEM, AFM
    나노 단차 교정 NSC-100 AFM
    NSC-200
    장비 특성 평가 원자현미경 탐침 특성 평가 ATC-100 AFM
    ATC-200
    ATC-300
    ATC-400
    주사탐침현미경 특성 평가 EFM-100 SCM, EFM, SSRM 등
    SCM-100
    SSRM-100
    표면분석장비 공간분해능 평가 SRC-100 SIMS, XPS, AES, EPMA 등
    SRC-200
    SRC-300
    박막 두께 측정 나노 산화막 두께 측정 NTC-HfO2 XPS, Ellipsometry, XRR, MEIS 및 TEM 등
    NTC-ZrO2
    NTC-Al2O3
    다층 박막 깊이 분포도 측정 MLF-100 SIMS, XPS, AES, SEM, TEM등
    MLF-200
    MLF-300
    박막 조성 분석 합금 박막 정량 분석 SCA-PtNi SIMS, XPS, AES, XRF, EPMA, RBS 등
    SCA-PtCo
    SCA-FeNi
    SCA-SiGe
    특수 목적 박막 RBS 에너지 교정 RBS-100 RBS
    MEIS 에너지 교정 MEIS-100 MEIS
    MEIS 정량 분석 MEIS-200 MEIS, XPS, AES